中子粉末衍射谱仪

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　　【谱仪性能参数指标】

　　分辨率:0.2%

　　波长1.8

　　单色器:Ge(115)晶面

　　样品处注量率：10⁶cm^-2s^-1

　　探测器:70支3He阵列

　　扫描衍射角范围:8°～172°

　　样品环境装置

　　低温范围：10K～300K

　　高温范围：20℃～1000℃

　　高压范围：常压～10GPa

　　【主要用途介绍及应用范例】

　　中子粉末衍射主要用于材料的晶体结构(含磁结构)测量和分析，确定材料的微观结构参数，探讨材料结构与性能的关系。可用于：

　　新材料的结构测定与性能关系研究

　　重基体材料中轻元素状况分析(含氢键问题)

　　磁性物质磁结构表征

　　多晶材料晶体结构与磁相变研究

　　极端环境(高压、高低温等)下材料行为研究

　 在这台谱仪上已经开展的主要工作有：钛锆样品杆本底检测实验，测量了空的钛锆样品杆中子衍射谱；LaNi_4.25Al_0.75 样品中子衍射实验；CuI样品在常温、586K下的中子衍射实验；YFeSi样品在15K、150K温度下的中子衍射实验；充氘玻璃小球在10k和50k低温下的中子衍射试验。